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口頭

X線照射したヒト細胞中における化学修飾ヒストンの2次構造変化

山本 悟史; 泉 雄大; 藤井 健太郎; 横谷 明徳

no journal, , 

放射線により細胞核中に生じたDNAの二本鎖切断は、その多くが複数の修復経路で効率よく修復されることが知られている。DNA損傷部位近傍のヒストンが化学修飾を受けることにより立体構造が変化し、これをターゲットにしてDNA修復酵素が損傷部位に誘導されると推測される。そこで本研究では、DNA損傷部位のヒストンの化学修飾により、どのようなタンパク質の立体構造の変化が起きているのかを明らかにすることを目的とした。ヒト細胞にX線を照射し細胞核内のDNAに損傷を誘発した後、細胞から抽出したヒストンに対して円偏光二色性(CD)スペクトル測定を行い2次構造を解析した。その結果、$$alpha$$へリックス構造が有意に増加することを見出した。このような二次構造変化は、クロマチン修復ダイナミクスと深く関連している可能性がある。

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